青岛锐源宏图电子科技有限公司
光器件分析仪 LWA 7000 系列
产品
产品 DETAILS
光器件分析仪 LWA 7000 系列
LWA 7601-C 采用光频域反射技术测量光纤背向瑞利散射或透射光作为距离/时间（或波长）的函数 。LWA 7601-C 作为光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具，得益于其超高的灵敏度和空间分辨率(20μm)。可以升级测量长度，最高可达500m，使光纤网络的测试变得简单。 LWA 7601-C 降低了测试的成本和复杂性，同时通过使用单台仪器测量IL、RL 和反射或传输长度来提高生产效率。
产品特性
产品应用
• 回损 (RL) 和插损 (IL) 分析测量
• 长度方向上的回损分布测量
• 回损(RL)和插损(IL)的光谱分析
• 探测和精准定位反射事件和光路
• 速度、空间分辨率、精度优化产品测试
• 20μm空间分辨率
• 12.5 Hz 扫描/采集速率（在20m模式下）
• 回损RL测量
• 插损IL自动测试和分析
• 亚皮秒精度延时（长度）测量
• PLCs, 波导器件, AWGs,ROADMs, 等器件测量
• 滤波器, 耦合器, 光开关, 分束器, FBGs, 波分器件测试
规格参数
|
参数 |
LWA7601-C |
LWA7601-C² |
|
|
最大测量长度 |
反射模式 |
100 m |
500 m |
|
透射模式 |
200 m |
1000 m |
|
|
空间分辨率(两点) |
20 μm |
80 μm |
|
|
波长精度 |
±2 pm |
||
|
时延精度 |
±0.001 % |
±0.005 % |
|
|
中心波长 |
1546.69 nm |
||
|
扫频（波长）范围 |
±2500(±20nm) GHz |
±625(~±5nm) GHz |
|
|
测量速率（连续测量） |
~0.08s (20m) |
~0.5s |
|
|
最大功率 |
5 mW |
||
|
回损测量特性(反射模式) |
|||
|
RL动态范围 |
70 dB |
||
|
总范围 |
0to-130 dB |
||
|
灵敏度 |
-135 dB |
||
|
分辨率 |
±0.1 dB |
||
|
精度 |
±0.5 dB |
||
|
插损测量特性(反射透射) |
|||
|
IL动态范围，透射模式 |
70 dB |
||
|
IL动态范围，反射模式 |
15 dB |
||
|
分辨率 |
±0.1 dB |
||
|
精度 |
±0.2 dB |
||
|
物理特性 |
|||
|
远程接口 |
SCPI APl over TCP/IP |
||
|
光学接口 |
FC/APC |
||
|
尺寸 |
35(L) x 47(W) x 10(H) cm |
||
|
重量（不含设备控制器） |
15lbs (7kg) |
||
