PDL-201 偏振相关损耗测试仪

产品总述

采用专利最大最小搜索技术，通用光电公司的PDL测量仪能在30 ms内，同时测量待测器件的偏振相关损耗（PDL），插入损耗（IL）和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同，PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率，确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度。因此可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围：1260~1650 nm，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。它带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口，用于电脑控制。它能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性，尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比，PDL-201具有较快的测量速度，较大的测量动态范围，更明亮的显示屏，以及用于集成的附加模拟输出端口。

产品特性

30 ms的测量速度

较宽的波长范围

PDL测量精度高

PDL模拟输出

高亮的OLED屏

产品应用

PDL与波长测量

DWDM器件特性测试

光纤传感元件特性测试

规格参数
工作波长	1260 - 1620 nm
分辨率	0.01 dB
偏振相关损耗（PDL）精度	± (0.01 + 5% of PDL) (dB)
PDL重复性	± (0.005 + 2% of PDL) (dB)）
PDL动态范围	0 - 45 dB
插入损耗（IL）精度	± (0.01 + 5% of IL) (dB)
IL重复性	± (0.005 dB + 2% of IL) (dB)
IL动态范围	0 - 45 dB
光功率范围（@DUT输出端）	-40 ~ +6 dBm
光功率精度	±0.25 dB
测量速度	30 ms/次（输入功率> -30 dBm）
接头类型	光源和DUT输入：APC DUT输出：自由空间适配器