激光器噪声测试系统

激光器噪声测试系统
本系统专为高精度测量激光器的相对强度噪声(RIN)而设计，适用于窄线宽光纤激光器、半导体激光器等各类光源的噪声特性分析。系统采用低噪声光电探测、高分辨率频谱分析及数字信号处理技术，可准确表征激光器的强度噪声性能，为科研和工业应用提供可靠的测试数据。

核心功能与特点
可测波段
C波段、1um、780nm、2um、可见光波段
宽动态范围测量
支持RIN测试范围从接近量子极限(-160dB/Hz)至高频段(>10 MHz)，覆盖激光器典型噪声频谱。
高灵敏度探测
采用低噪声平衡探测器与高线性度放大器，确保微弱噪声信号的精确提取。
多频段分析
集成基带FFT分析仪与射频频谱仪功能，实现DC~GHz频段的噪声功率谱密度(PSD)测量。
环境抗干扰设计
通过特殊减震设计，提高系统环境抗干扰能力，保证恶劣环境中仍可正常工作。